小角X線散乱測定装置（SAXS）

Small Angle X-ray Scattering System

電解質膜やアイオノマー分散液のナノサイズの構造解析

用　途

電解質膜のミクロ相分離の構造周期やアイオノマー分散粒子のサイズや形状評価

原　理

X線を試料に照射し、小角散乱X線（散乱角が約5°以下）の強度分布から1～100 nm程度の構造を評価する。

特　長

・燃料電池電解質膜の加湿環境下の構造解析が可能
・アイオノマー分散液の構造解析も可能

仕　様

Rigaku NanoViewer
X線源: Cu Kα, 40 kV, 30 mA
光学系: 3スリット・透過法
カメラ長: 可変（最大700 mm）
検出器: X線光子計数型2次元検出器

活用事例

固体高分子形燃料電池用電解質膜の劣化前後での測定により劣化現象の解明にも有効。