(走査型)透過型電子顕微鏡
(Scanning) Transmission Electron Microscope
用 途
各種部材の微細構造観察
原 理
特 長
・高分解能観察 ・結晶構造解析
・元素分析 ・凍結試料の観察
・3Dイメージング ・液体サンプルの観察
仕 様
装置名 : JEM-ARM300F(日本電子社製)
電子銃 : Cold FE銃
加速電圧 : 80、120、200、300 kV
分解能 : TEM・STEM像 ; 0.2 nm
カメラ : Gatan社製One view
EDS : JEOL社製100 mm2大口径SDD
JED(日本電子製アナライザー)
ポールピース : ワイドギャップポールピース(6 mm)
特殊ホルダー : 高傾斜ホルダー(±80°)
冷却ホルダー
液中観察ホルダー(Poseidon)